全52件
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
高分子有機EL材の構造解析（熱分解-イオントラップGC/MS）
有機EL材料の同定（LC-TOF/MS）
高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴）
有機膜の化学状態分析（ESCA（XPS）－GCIB）
有機積層膜の深さ方向分析 （ESCA（XPS）－GCIB）
薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）
固体NMRによる構造解析技術