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高温下での結晶相変化の解析(XRD)
未知物質の同定（XRD）
SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry
シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴）
GPC（SEC）-FTIR法によるポリフェニレンエーテル(PPE)／ ポリスチレン(PS)ブレンド試料の分子量測定
有機膜の化学状態分析（ESCA（XPS）－GCIB）
GPC（SEC）-FTIR法による PET共重合体(PETG)／ポリカーボネート(PC)ブレンド試料の分子量測定
有機積層膜の深さ方向分析 （ESCA（XPS）－GCIB）
薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS）
シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
GPC法 (SEC法)入門講座
石英ガラス中の金属不純物分析（ICP）
難接着材料のポアソン比測定 非接触法による評価（2）
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）
固体NMRによる構造解析技術
高分子材料中の紫外線吸収剤の分析（GC-MS） （化審法特化物の超微量定量分析）
固有粘度の測定法：JISなどで見られる濃度１点での測定方法についてⅠ
微小異物の非破壊分析（顕微ラマン）
樹脂の分子量分布の評価 粘弾性による方法