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FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
ゼオライト ‐ 固体29Si NMRによる構造解析
高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
プローブ分子吸着FT-IR法によるゼオライトの酸点解析
ゼオライト水酸基の固体NMR解析
ゼオライトの結晶構造解析（リートベルト法）
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
薄膜、柔軟材料の線膨張率測定 非接触法
脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
固相抽出を利用した微量金属成分の分析（ICP-MS）
高温下での結晶相変化の解析(XRD)
未知物質の同定（XRD）
SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry
シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴）
薄膜中の微量金属分析 （ICP-AES、GF-AAS、ICP-MS）
シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
石英ガラス中の金属不純物分析（ICP）
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）
全25件