AFM-IRはナノオーダーでの官能基マッピングが可能な装置で、ポリマーブレンドの微細な構造観察を得意としています。本セミナーでは、高分子材料の解析事例を中心に、AFM-IRの特徴やどのような測定が可能であるかをご紹介します。
「FT-IRでは分解能が足りない」「TEMやSEMは定性能力に欠ける」といったお悩みをお持ちの方におすすめのセミナーです。
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AFM-IRを用いた高分子材料のナノ構造解析
| 内容 |
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|---|---|
| 講師 | (株)東ソー分析センター 四日市事業部 解析G 佐野 彩菜 |
| 日時 | 2025年5月29日(木) 16:00～17:00（開場 15:50頃） |
概要
申込期限：5月28日(水)
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備考
お問い合わせ
オンラインセミナー窓口 Mail: tarc_seminar@tosoh-arc.co.jp
注意事項
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