X線光電子分光法（ESCA：Electron Spectroscopy for Chemical Analysis、またはXPS：X-ray Photoelectron Spectroscopy）は試料にX線を照射して発生する光電子を検出し、構成元素や化学状態を分析する手法です。その分析深さは数nmで試料最表面の構造解析が可能です。
材料表面は機能発現因子や劣化の起点となることが多く、その構造解析は非常に重要です。本セミナーではESCAで評価できる基礎的な分析事例に加えて、表面水酸基の定量やGPCと併せたポリマーの劣化解析など応用的な分析事例を紹介します。
参加費
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