特殊溶媒系GPCによるポリマーの分子量分布測定

概要

高分子材料は、長時間の光照射を受けると、分子切断や架橋形成などの劣化にて分子量が変化します。
ポリエーテルエーテルケトン (PEEK) について、耐候性試験を行い、GPCによる分子量測定を行いました。

試験条件

1. 耐候性試験

装置 ： アイスーパーUVテスター SUV-W161（岩崎電機製）
・運転モード　照射のみ
・照射強度　 100mW/cm²
・照射時間　 200時間
・シャワー、水冷ボード　OFF
・照射温度　63℃
・照射湿度　50％

2. 分子量測定

装置 ： HLC-8320 (東ソー製)
・カラム　： TSKgel SuperHM-H × 2本（東ソー製）
・溶離液　： PFP/クロロホルム = 1/2（wt/wt）

測定結果

光劣化前後のGPC分子量分布曲線を図1に示します。試料に不溶解分が確認されたため、ピーク面積を補正しています。光照射を受けた表面ほど劣化が進行し、分子量は低くなっています。