概要
ゼオライトは透過電子顕微鏡（TEM）観察時の電子線照射にて容易に結晶が壊れてしまうために、TEM観察は一般的に困難です。そこで、高速カメラ（OneViewIS）を搭載したTEMを用いた弱い電子線での観察（low-dose観察）により、結晶構造を明らかにしました。
試料
ゼオライト粉末：（AFX/CHA連晶ゼオライト）
装置と分析手法
| 装置 | FE-TEM＋OneViewISカメラ（Gatan製） |
| 加速電圧 | 200kV |
| 前処理 | FIB加工→Arイオンビーム処理 |
結果
円盤状のゼオライト粉末について、円盤の側面方向からのTEM観察を行いました（図1）。200kVでのTEM観察によりゼオライトはアモルファス化してしまいますが（図2a）、高速カメラを用いた短時間観察により、AFX型とCHA型の2種類のゼオライトが連続的につながっている構造（連晶）を撮影できました（図2b）。
（b）赤矢印方向からの低倍率TEM観察結果
アモルファス化した。
（b）高速型カメラを用いた観察結果。細孔配列が観察された。
参考文献
- Naraki, K. Ariga, K. Nakamura, K. Okushita, T.Sano, Micropor. Mesopor.Mater,254,160(2017)
- 中村 和人、東ソー研究・技術報告、61、93（2017）
適用分野
セラミックス、その他無機材料、結晶構造解析、形態観察
キーワード
ゼオライト、触媒、吸着材、連晶組織、intergrowth
