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表面分析

ESCA (XPS)

ESCA（XPS：X線光電子分光法）は、材料最表面（数nm）の元素組成および化学結合状態を評価する分析手法です。
樹脂や金属、電池材料などの酸化・劣化、表面処理、薄膜・コーティング、汚染・付着物、官能基の違いを評価し、密着性や濡れ性、触媒性能などに影響する表面状態の解明に活用されています。

全28件

ポリマーフィルム表面官能基量と撥液性の関係解析 (ESCA) 粉末顔料の表面組成・化学状態解析（ESCA） 金属触媒の劣化解析（ESCA、炭素分析） ESCAによる離型剤の成分・膜厚解析 難溶解性樹脂の分析 ～ ESCAによる深さ方向の劣化解析 ～ 化学修飾ESCAによる液晶ポリマーの表面水酸基解析 ポリマー表面の劣化解析におけるESCAの優位性 難溶解性樹脂の構造解析 ～紫外線照射したアラミド繊維の表面劣化解析～ 難溶解性樹脂の構造解析 ～ 紫外線照射によるPEEKの表面劣化解析 ～ 潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の組成及び化学種の解析～ 潤滑膜の分析手法 大気非暴露分析 – 表面・局所分析 – 分析試料包装時の表面汚染管理（ESCA/XPS） ESCAによる高分子膜の深さ方向分析 気相化学修飾ESCAを用いたポリマー表面官能基の解析 GCIB-ESCAによるステンレス材料解析 異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～ -LIBの分析-　ESCAによるMn価数解析 -LIBの分析-　負極材の大気非暴露ESCA分析 角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）

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X線光電子分光分析装置

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