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エレクトロニクス
情報端末や電池を構成する各種部材について様々な解析をご提案します
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高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡(FE‐TEM)
液体クロマトグラフ-四重極型質量分析計(LC-QMS)
新規NMR導入紹介_液体/固体兼用高磁場NMR装置を導入しました
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
トリプル四重極型ICP-MS
薄膜用X線回折装置
集束イオンビーム
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電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
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