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メソポーラスシリカ粉末のFIB加工と断面TEM観察
FE-SEMによる加熱時のその場観察(in-situ)
TEM基礎講座 ①原理
FE-SEMによるサンプル加熱時の形態観察
-LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析
コンダクティブAFMによる有機半導体の電気的評価 －有機半導体の電気的欠陥分布の把握－
-LIBの分析- TEMによる正極材料の結晶構造解析
FIB-STEM/EDSによる元素マッピング
有機・無機複合材料の断面作製（クライオ断面イオンミリング）
透過型電子顕微鏡(TEM)によるポリエチレンの結晶ラメラ観察
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
表面性状と液滴の滑落性 接触角計とＳＰＭによる評価
表面官能基の識別 修飾カンチレバー法
脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）