全38件
セルロースナノファイバー複合化ポリマーの分散状態観察（AFM、TEM）
異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
-LIBの分析- 負極材の大気非暴露ESCA分析
角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）
-LIBの分析- ESCAによる正極材の組成、状態分析
コンダクティブAFMによる有機半導体の電気的評価 －有機半導体の電気的欠陥分布の把握－
GCIB-ESCAによる膜基板界面の分析
価電子帯スペクトルを利用したGCIB-ESCAによる深さ方向分析
価電子帯スペクトルによる材料分析（ESCA）
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
表面官能基の識別 修飾カンチレバー法
ゴム表面の微小異物分析（イメージング顕微FT-IR）
有機膜の化学状態分析（ESCA（XPS）－GCIB）
有機積層膜の深さ方向分析 （ESCA（XPS）－GCIB）
シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）