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元素分析

SEM-EDS

SEM-EDS（走査電子顕微鏡・エネルギー分散型X線分析）は、試料表面の微細な形態観察と元素分析を同時に行う分析手法です。

電子線照射によって発生する特性X線を利用し、試料の形状だけでなく、含有元素の種類や分布状態を評価できます。

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スマートフォン部材のリバースエンジニアリング（薄膜分析） 難溶解性樹脂の構造解析 ～紫外線照射したアラミド繊維の表面劣化解析～ スマートフォン部材のリバースエンジニアリング（部材分析） 潤滑膜の分析手法 樹脂中のフィラー分散性の評価 大気非暴露分析 – 表面・局所分析 – 金属配管の異物観察 FE-SEM/EDSによる断面の元素マッピング 異物分析 その1 ～ 異物分析フロー ～ -LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析 フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS) nmオーダーの形態観察と組成分析(FE-TEM)

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電界放出形走査電子顕微鏡

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