技術資料 「LC-MSによるインタクト抗体の糖鎖組成解析(2)」を掲載しました 技術資料 「NMRによるポリアミド混合物の組成解析」を掲載しました 装置紹介 「誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）」を改訂しました 技術資料 「赤外分光装置(FT-IR)によるIn-situ分析」を掲載しました 装置紹介 「等圧式ガス・水蒸気透過試験装置（等圧式GC法）」を掲載しました 装置紹介 「差圧式ガス・水蒸気透過試験装置（差圧式GC法）」を改訂しました
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形態観察

SEM

SEM（走査電子顕微鏡）は、試料表面や断面の微細構造を高倍率で観察する分析手法です。

表面の凹凸、傷、付着物などの形態観察に加え、断面観察ではコーティング膜や積層構造の厚さ、空隙、割れ、接合状態などを評価できます。

全24件

高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） 脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)

全3件

電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） 集束イオンビーム 電界放出形走査電子顕微鏡

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