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装置紹介
No.A2301 | 2023.07.17

AFM-IR

(Atomic Force Microscope - Infrared Spectroscopy)

概要

AFM-IRは、IRレーザーを照射しながらAFM探針(カンチレバー)を走査することで、試料の応答を検出しイメージングする装置です。従来のAFM-IRは、IRレーザー照射に伴う試料の熱膨張を検出することが一般的でしたが、弊社が導入したAFM-IRではダイポールフォースを検出することで最表面の情報のみを取得でき、空間分解能10nmでのイメージング、極微小領域の赤外スペクトルの取得が可能です。

装置構成

【図1】概略図
【図2】装置:AFM-IR(Molecular Vista社製 Vista One)
【図2】装置:AFM-IR
(Molecular Vista社製 Vista One)

測定波数:626-1999cm-1 及び 2248-4544cm-1
環境制御:室温から250℃、乾燥空気or窒素
サンプルサイズ:1cm×1cm×7mm(厚み)、表面凹凸1μm以下
 ※加熱または窒素下ではサンプル厚が1mmまで
 ※平滑な測定面を調製するため前処理を行う場合がございます。

分析事例の紹介

試料:ポリスチレン-b-ポリメタクリル酸メチル(PS-b-PMMA)
イメージング波数:PS(ベンゼン環:700cm-1)、PMMA(C=O:1730cm-1
ミクロ相分離構造を組成でイメージングすることができました。


【図3】(a)形状像         (b)PS       (c)PMMA      (d)combined   

適用分野
プラスチック・ゴム、その他有機製品、繊維・紙・木材・パルプ、電池・半導体材料、食料品・飲料・飼料・食品包装材
キーワード
ブロック共重合体、グラフト共重合体

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