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無機材料

ゼオライト

全25件

脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴） シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR） nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM） 固体NMRによる構造解析技術

全8件

高輝度X線回折装置 電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM） トリプル四重極型ICP-MS 顕微ラマン分光分析装置 蛍光X線分析装置（XRF） 電子スピン共鳴分析装置（ESR） 電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM） 誘導結合プラズマ発光分析装置（ICP-AES）

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