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分光分析

FT-IR

FT-IR（フーリエ変換赤外分光法）は、材料の定性分析や異物分析に用いられる分析手法です。
 官能基情報から化学構造を解析できるため、成分の同定だけでなく、高分子材料の劣化解析や化学反応の進行評価などにも活用されています。

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プローブ分子吸着FT-IR法によるゼオライトの酸点解析 多層材料の積層構成分析/製品中の異物分析 製品解析やクレーム/トラブルの解決にお役立てください。 ゴム表面の微小異物分析（イメージング顕微FT-IR） シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR） 光劣化させたポリエチレン(PE)の分子量測定

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溶媒蒸発型GPCを用いたGPCハイフネーテッド技術 AFM-IR 加熱赤外分光測定（加熱IR測定） イメージング顕微FT-IR 物質分布の解析、微小異物の同定 GPC(SEC)-FTIR装置（溶媒蒸発型）

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