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集束イオンビーム (FIB：Focused Ion Beam) 高温GPC(SEC)-FTIRによる高分子の解析 ～ エチレン-αオレフィン共重合体の短鎖分岐度分布分析 ～ 拡散係数の評価 ～ ガス透過試験装置の応用 ～ キャピラリーレオメーターによる伸長粘度評価 微量NMR ‐ μgオーダー成分の構造解析 塩化ビニル樹脂中の添加剤分析 GPCによるセルロース材料の分子量分布測定 価電子帯スペクトルによる材料分析（ESCA） 多機能キャピラリーレオメータ 粘度、伸長粘度、溶融張力、PVT測定など 透過型電子顕微鏡(TEM)によるポリエチレンの結晶ラメラ観察 ポリマーブレンド系などの複雑な高分子材料のガラス転移点を決定する手段 温度変調DSCの紹介 レーザ顕微鏡（LM） Confocal Laser Scanning Microscope デジタルマイクロスコープ Digital Micro Scope 電界放出形走査電子顕微鏡 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM) X線光電子分光分析装置 Electron Spectroscopy for Chemical Analysis（ESCA） X-ray Photoelectron Spectroscopy（XPS） 超高温GPC(SEC)装置 GPC(SEC)-FTIR装置（溶媒蒸発型） 高分子材料の劣化評価(2) 表面近傍の分子量測定 高分子材料の劣化評価(1) ポリプロピレンの引張特性と分子量の関係 熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法） ASTM E-1461,DIN EN821,DIN 30905 JIS R 1611、JIS H 7801、JIS R 1667、ISO 18755　準拠