全90件
加熱SEMを用いた鉛フリーはんだのAg凝集挙動観察
－異物分析－ 無機材料に内包された異物の分析
GCIB-ESCAによるステンレス材料解析
イメージングFT-IRによる配向解析
In-situ XAFS測定による鉄さびの構造変化の観察
乾燥剤の細孔分布測定
はんだ（共晶組織）のin-situ加熱SEM観察
高磁場NMRによる無機材料（ガラス）の配位解析
バイオミネラルのin-situ加熱SEM観察
FE-TEMによるジルコニアの添加元素分布解析
赤さびの加熱による構造変化（in-situ 加熱FE-SEM）
異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
樹脂/金属接合技術によるPPS/アルミ板界面のTEM観察
メソポーラスシリカ粉末のFIB加工と断面TEM観察
-LIBの分析- 負極材の大気非暴露ESCA分析
角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）
TEM基礎講座 ①原理
触媒中の陰イオン分析
半導体材料の結晶構造解析（逆格子マップ）
全24件
高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）
反応熱量計
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
トリプル四重極型ICP-MS
加熱赤外分光測定（加熱IR測定）
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 （UV-VIS-NIR）
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
超高感度ガス・水蒸気透過試験装置
ダイヤモンドワイヤソー
顕微ラマン分光分析装置
熱重量－質量分析装置
集束イオンビーム
デジタルマイクロスコープ
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法）
蛍光X線分析装置（XRF）
電子スピン共鳴分析装置（ESR）