全49件
金属組織の冷却速度依存性（加熱SEM）
乾燥剤の細孔分布測定
FE-TEMによるジルコニアの添加元素分布解析
異なるX線源によるESCA分析 ～リチウムイオン電池材料と半導体材料を例に～
-LIBの分析- ESCAによるMn価数解析
メソポーラスシリカ粉末のFIB加工と断面TEM観察
-LIBの分析- 負極材の大気非暴露ESCA分析
角度分解法による深さ方向分析（ESCA、XPS）
TEM基礎講座 ①原理
触媒中の陰イオン分析
半導体材料の結晶構造解析（逆格子マップ）
-LIBの分析- ESCAによる正極材の組成、状態分析
-LIB の分析- 断面SEM観察による正極材料構造解析
-LIBの分析- TEMによる正極材料の結晶構造解析
FIB-STEM/EDSによる元素マッピング
有機・無機複合材料の断面作製（クライオ断面イオンミリング）
FE-SEMの各種検出器による観察結果 Field Emission-Scanning Electron Microscope (FE-SEM)
高展延性金属（はんだ、銅配線）の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
全23件
高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）
反応熱量計
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
トリプル四重極型ICP-MS
加熱赤外分光測定（加熱IR測定）
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 （UV-VIS-NIR）
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
超高感度ガス・水蒸気透過試験装置
顕微ラマン分光分析装置
熱重量－質量分析装置
集束イオンビーム
レーザ顕微鏡（LM）
デジタルマイクロスコープ
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
蛍光X線分析装置（XRF）
電子スピン共鳴分析装置（ESR）
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）