全48件
TEMによるPt/C触媒のPt粒子径評価
NMR入門講座 ⑦緩和時間測定
粉末顔料の色調評価（UV-vis拡散反射法）
熱伝導率の異方性評価
ナノビーム電子回折(ナノビームディフラクション：NBD)マップによる窒化物膜の結晶構造解析
大気非暴露FIB-TEMによる易酸化材料の構造解析
ゼオライトの結晶構造解析２ （TEM低ダメージ観察）
In-situ加熱TEMによる金属コロイドの形状変化解析
腐食性液体の粘度測定（EMS粘度計）
ゼオライト中のCs状態解析
超純水中の微量金属分析（ICP-MS）
NMR入門講座 ⑤固体1次元測定とスペクトルの特徴
スマートフォン部材のリバースエンジニアリング（部材分析）
潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の表面粗さ解析～
潤滑膜の分析手法 ～潤滑油により形成される膜成分の組成及び化学種の解析～
大気非暴露分析 – 表面・局所分析 –
分析試料包装時の表面汚染管理（ESCA/XPS）
X線回折測定による微小異物の解析
ゼオライトの結晶構造解析１（電子線回折法）
金属組織の冷却速度依存性（加熱SEM）
全23件
高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）
反応熱量計
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
トリプル四重極型ICP-MS
加熱赤外分光測定（加熱IR測定）
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 （UV-VIS-NIR）
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
超高感度ガス・水蒸気透過試験装置
顕微ラマン分光分析装置
熱重量－質量分析装置
集束イオンビーム
レーザ顕微鏡（LM）
デジタルマイクロスコープ
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
蛍光X線分析装置（XRF）
電子スピン共鳴分析装置（ESR）
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）