全51件
イオンスパッタによる深さ方向分析 （ESCA、XPS）
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ））
高温下での結晶相変化の解析(XRD)
未知物質の同定（XRD）
SEM-EDX による 異物の組成解析 Scanning Electron Microscope-Energy Dispersive X-ray Spectrometry
シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴）
シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR）
フラッシュメモリの断面観察 (FE-SEM／EDS)
nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM）
固体NMRによる構造解析技術
全23件
高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）
反応熱量計
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA）
トリプル四重極型ICP-MS
加熱赤外分光測定（加熱IR測定）
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 （UV-VIS-NIR）
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
超高感度ガス・水蒸気透過試験装置
顕微ラマン分光分析装置
熱重量－質量分析装置
集束イオンビーム
レーザ顕微鏡（LM）
デジタルマイクロスコープ
電界放出形走査電子顕微鏡
X線光電子分光分析装置
蛍光X線分析装置（XRF）
電子スピン共鳴分析装置（ESR）
電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM）