TOP
新着情報
トピックス
選ばれる理由
技術資料一覧
技術資料一覧トップ
分析対象から探す
分析目的から探す
分析装置一覧
分析装置一覧トップ
GPC
材料物性
組成分析
構造分析
微量分析
形態観察・測定
異物分析
セミナー・イベント
セミナー・イベントトップ
セミナー
インハウスセミナー
学会
展示会
出版物
会社情報
会社情報トップ
ごあいさつ
会社概要
拠点一覧
沿革
採用情報
ご依頼の流れ
お問い合わせ
search
新着情報
トピックス
採用情報
ホーム
選ばれる理由
技術資料一覧
技術資料一覧
技術資料一覧トップ
分析対象から探す
分析目的から探す
分析装置一覧
分析装置一覧
分析一覧トップ
GPC
材料物性
組成分析
構造分析
微量分析
形態観察・測定
異物分析
セミナー・イベント
セミナー・
イベント
セミナー・イベントトップ
セミナー
インハウスセミナー
学会
展示会
出版物
ご依頼の流れ
会社情報
会社情報
会社情報トップ
ごあいさつ
会社概要
拠点一覧
沿革
会社案内パンフレット
mail_outline
お問い合わせ
検索
ホーム
chevron_right
技術資料一覧
chevron_right
分析対象から探す
chevron_right
無機材料
chevron_right
ガラス、セラミックス
chevron_right
ページ 2
無機材料
ガラス、セラミックス
技術資料 (30件)
分析装置 (13件)
全30件
-LIBの分析- TEMによる正極材料の結晶構造解析
ゼオライト ‐ 固体
29
Si NMRによる構造解析
GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング
脆弱試料の断面作製法 (断面イオンミリング(クロスセクションポリッシャ:CP))
高温下での結晶相変化の解析(XRD)
シリカガラスの欠陥構造解析(ESR-電子スピン共鳴)
シリカ粉末の表面SiOH分析(拡散反射FT-IR)
石英ガラス中の金属不純物分析(ICP)
nmオーダーの形態観察と組成分析(FE-TEM)
固体NMRによる構造解析技術
前へ
1
2
全13件
高輝度X線回折装置
電界放出型透過電子顕微鏡(FE‐TEM)
電界放出型電子プローブマイクロアナライザ(FE-EPMA)
トリプル四重極型ICP-MS
紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770 (UV-VIS-NIR)
酸素・窒素分析装置
炭素・硫黄分析装置
ダイヤモンドワイヤソー
顕微ラマン分光分析装置
集束イオンビーム
デジタルマイクロスコープ
熱拡散率測定装置(レーザーフラッシュ法)
蛍光X線分析装置(XRF)
CONTACT
ぜひ、お問い合わせください
弊社の分析技術について、納期やコストについてご検討の方は、
お問い合わせフォームより問い合わせください。
お問い合わせ
ご依頼の流れについて