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無機材料

ガラス、セラミックス

全29件

ゼオライト ‐ 固体29Si NMRによる構造解析 GCIB-ESCAによる無機材料表面クリーニング 脆弱試料の断面作製法 （断面イオンミリング（クロスセクションポリッシャ：ＣＰ）） 高温下での結晶相変化の解析(XRD) シリカガラスの欠陥構造解析（ESR－電子スピン共鳴） シリカ粉末の表面SiOH分析（拡散反射FT-IR） 石英ガラス中の金属不純物分析（ICP） nmオーダーの形態観察と組成分析（FE-TEM） 固体NMRによる構造解析技術

全13件

高輝度X線回折装置 電界放出型透過電子顕微鏡（FE‐TEM） 電界放出型電子プローブマイクロアナライザ（FE-EPMA） トリプル四重極型ICP-MS 紫外・可視・近赤外分光光度計 V-770　（UV-VIS-NIR） 酸素・窒素分析装置 炭素・硫黄分析装置 ダイヤモンドワイヤソー 顕微ラマン分光分析装置 集束イオンビーム デジタルマイクロスコープ 熱拡散率測定装置（レーザーフラッシュ法） 蛍光X線分析装置（XRF）

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